嵌入式系統(tǒng)設計、測試和3G手機硬件測試全能班
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課程名稱 |
課程內(nèi)容 |
培訓目標 |
階段1
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項目及需求分析 |
實地參觀、樣機演示、商業(yè)模式、行業(yè)標準、技術預研、需求分析、熟悉主流MCU/MPU廠家/型號/特點/應用領域、選擇核心硬件方案、系統(tǒng)框圖 |
能夠就新項目作需求分析、選擇有實用價值的核心硬件方案 |
階段2 |
常用接口電路分析 |
電阻/電容/電感/二極管/三極管/MOS管/繼電器/霍爾等分立器件、接插件、線性/開關電源、上電時序/緩啟電路、復位/看門狗/時鐘/低壓檢測等系統(tǒng)電路、鍵盤/觸摸屏/LED/數(shù)碼管/LCM/LCD等輸入輸出、UART/RS-232/RS-485/CAN/USB等異步串行、I2C/I2S/SPI等同步串行、并行/PCI總線、ISP/IAP/JTAG/AS/PS等調(diào)試/下載、SD/MMC/TF/CF等卡類存儲、SRAM/SDRAM/DDR
SDRAM/EEPROM/NOR/NAND/DataFlash/等IC類存儲、ADC/DAC、EMAC/PHY/RJ45、光耦/紅外等光電器件、溫度/濕度等傳感器、最小系統(tǒng)…，同步細化項目電路 |
熟悉各類電子元器件、接插件，熟練選擇、設計常用接口電路，具備進一步提高、拓展的能力 |
階段3 |
CPLD/FPGA應用設計 |
邏輯代數(shù)、CPLD/FPGA概述、CPLD/FPGA結(jié)構(gòu)、EDA基礎、HDL基礎、設計流程、綜合、功能仿真、時序仿真、邏輯門電路、組合邏輯電路、時序邏輯電路、狀態(tài)機、實驗 |
CPLD/FPGA初級應用工程師，具備進一步提高、拓展的能力 |
階段4 |
原理圖設計 |
EDA基礎、原理圖元件庫、圖元放置與編輯、EMC/EMI、設計規(guī)則及檢查、簡單/層次原理圖、高速電路設計、原理圖與PCB同步設計、報表生成及輸出、寫《單板PCB設計要求》，同步設計項目電路原理圖 |
熟悉原理圖設計，具備用《單板PCB設計要求》等文檔控制第3方專業(yè)PCB設計的能力 |
階段5 |
PCB設計 |
EDA基礎、生產(chǎn)工藝、PCB元件庫、圖元放置與編輯、EMC/EMI、設計規(guī)則及定義、布局與布線技術、高速/多層PCB設計、報表生成及輸出、交付生產(chǎn)，同步設計項目雙面PCB |
熟悉雙面PCB設計，具備高速、多層PCB設計能力 |
階段6 |
C語言程序設計 |
數(shù)據(jù)類型、運算符、表達式、數(shù)組、指針、結(jié)構(gòu)體/共用體、順序結(jié)構(gòu)、選擇結(jié)構(gòu)、循環(huán)控制、函數(shù)及庫、預處理命令、文件操作等ANSI標準C基礎，C51/ARM
C特殊語法，線性表等項目編程用到的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，C語言編程規(guī)約 |
熟悉C51程序設計、ARM C語言程序設計 |
階段7 |
MCS-51/ARM體系結(jié)構(gòu)與編程 |
采用對比教學法；MCS-51編程模型、指令集、匯編語言程序設計、C51程序設計；ARM編程模型、指令集、匯編語言程序設計、C語言程序設計 |
熟悉MCS-51體系結(jié)構(gòu)及編；熟悉ARM體系結(jié)構(gòu)及編程 |
階段8 |
嵌入式實時操作系統(tǒng)uC/OS |
實時系統(tǒng)概念、任務管理、時間管理、事件控制塊、信號量管理、互斥型信號量管理、事件標志組管理、消息郵箱管理、消息隊列管理、內(nèi)存管理 |
熟悉嵌入式實時操作系統(tǒng)原理及編程 |
階段9 |
焊接調(diào)試 |
了解波峰焊、回流焊技術；手工熟練焊接各類、各種封裝元器件，BGA封裝除外；熟練使用仿真器、下載線、萬用表、示波器等調(diào)試工具；按先后次序焊接、調(diào)試各單元電路 |
熟練使用調(diào)試工具、焊接、調(diào)試電路，能夠有序、快速解決問題 |
階段10 |
項目編程 |
作概要設計和詳細設計、先后實現(xiàn)前后臺和uC/OS系統(tǒng)編程、MCS-51/ARM應用編程。內(nèi)容：啟動代碼、uC/OS移植、人機界面、主MDB/ICP會話（ARM）、從MDB/ICP會話（MCS-51）、AT指令、紙幣識別器、硬件識別器/退幣器、非接觸IC卡/讀卡器、分報控制、交易記錄、出錯處理、SD/MMC存儲、廣告設備管理、本地管理、遠程管理 |
熟悉前后臺系統(tǒng)編程；了解或熟悉uC/OS系統(tǒng)編程，視個人能力而定；熟悉多種總線和外設編程，具備進一步提高、拓展的能力 |
階段11 |
硬件測試 |
一、硬件測試種類與操作
①指標測試
②功能測試
③容限測試
④容錯測試—FIT
⑤長時間驗證測試
⑥可靠性數(shù)據(jù)預計
⑦一致性測試
⑧評審
二、硬件測試的級別
①黑盒測試與白盒測試
②單元測試
③系統(tǒng)測試
三、可靠性測試
①EMC
②環(huán)境
③安規(guī)
④老化 |
階段 12 |
3G測試基礎 |
3G軟件測試環(huán)境搭建；3G軟件測試特點；軟件測試背景與軟件測試質(zhì)量 |
階段13 |
3G軟件開發(fā)環(huán)境 |
3G嵌入式開發(fā)環(huán)境： Symbian S60,
Series 40, UIQ; Monta Vista; J2ME; Windows Mobile;
嵌入式Linux; 3G軟件開發(fā)流程；CodeWarriar IDE |
階段14 |
3G測試模型 |
3G軟件測試模型類別以及測試模型的創(chuàng)建 |
階段15 |
3G測試執(zhí)行 |
3G測試執(zhí)行；測試用例的通過率；測試代碼覆蓋率；測試結(jié)果的分析與評估 |
階段 16 |
項目測試 |
軟件測試理論、測試方法、測試用例、測試文檔；相互之間開展嵌入式軟件黑盒測試 |
了解嵌入式軟件測試 |
| 單板硬件信號質(zhì)量測試 |
熟悉單板硬件信號質(zhì)量測試 |
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