
光學(xué)檢測(cè)與加工高級(jí)培訓(xùn)
光學(xué)檢測(cè)基礎(chǔ)知識(shí)與常規(guī)檢測(cè)
一、光學(xué)檢測(cè)的計(jì)量基礎(chǔ)知識(shí)與技能要求
1、計(jì)量學(xué)(測(cè)量科學(xué)與應(yīng)用)概述
2、誤差理論與數(shù)據(jù)處理概述
二、 光學(xué)材料與元件檢測(cè)技術(shù)(波段涵蓋紫外到紅外)
1、材料與平面元件檢測(cè)技術(shù)
2、球面元件
3、非球面元件
三、 光學(xué)系統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)
1、 光學(xué)系統(tǒng)中心偏檢測(cè)
2、星點(diǎn)像檢測(cè)
3、分辨率檢測(cè)
4、波像差檢測(cè)(Shack-Hartman法等非相位干涉檢測(cè))
5、MTF測(cè)量
6、光度與色度性能檢測(cè)(透過(guò)率、雜光及照度分布檢測(cè))
7、成像與非成像性能評(píng)測(cè)
激光共焦成像檢測(cè)技術(shù)
一、激光差動(dòng)共焦成像檢測(cè)技術(shù)
1、激光差動(dòng)共焦成像檢測(cè)原理
2、激光差動(dòng)共焦高空間分辨顯微成像技術(shù)
3、激光差動(dòng)共焦元件參數(shù)檢測(cè)技術(shù)
4、激光差動(dòng)共焦光譜聯(lián)用技術(shù)
光干涉技術(shù)
一、干涉檢測(cè)技術(shù)
1、 干涉基礎(chǔ)知識(shí)
2、 平面干涉儀
3、 球面干涉儀
4、非球面干涉檢測(cè)技術(shù)
5、光學(xué)自由曲面檢測(cè)技術(shù)
6、波面誤差的數(shù)字指標(biāo)與多項(xiàng)式描述
光學(xué)檢測(cè)需求與現(xiàn)代趨勢(shì)、表面檢測(cè)技術(shù)、國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
一、光學(xué)檢測(cè)技術(shù)的需求牽引與發(fā)展趨勢(shì)
1、光學(xué)檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展動(dòng)態(tài)
2、光學(xué)檢測(cè)技術(shù)的外延與內(nèi)涵
二、表面粗糙度、表面缺陷與疵病檢測(cè)技術(shù)
1、澄清基本概念和正確使用
2、表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)
3、光學(xué)表面粗糙度的基本概念和定義
4、光學(xué)表面粗糙度的測(cè)量
5、表面疵病的測(cè)量
三、光學(xué)元件國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(ISO10110)的基本內(nèi)容
1、基本規(guī)范
2、材料缺陷—應(yīng)力雙折射
3、材料缺陷—?dú)馀菖c雜質(zhì)
4、材料缺陷—非均勻性與條紋
5、表面形狀公差
6、中心偏差
7、表面缺陷公差
8、表面形貌
9、表面處理與鍍膜
10、光學(xué)元件和膠合組件參數(shù)的列表描述
11、自由曲面公差
12、非球面
13、激光輻射損傷閾值
光學(xué)儀器及光學(xué)裝置裝校工藝
一、 裝較工藝基礎(chǔ)知識(shí)及案例
1、 裝配的基本知識(shí)
2、 光學(xué)系統(tǒng)的裝校精度
3、 激光平面干涉儀的原理及裝校工藝
二、裝較工藝實(shí)例分析
1、 光學(xué)儀器和光學(xué)裝置的研制工藝實(shí)例
1)實(shí)例:4.4m環(huán)拋機(jī)
2)實(shí)例:光束發(fā)射系統(tǒng)
3)實(shí)例:大鏡頭裝校
2、 光學(xué)裝校常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法