
大數(shù)據(jù)測(cè)試培訓(xùn)
大數(shù)據(jù)基礎(chǔ)
1. 概念a. 5V模型b. 實(shí)例討論
2. 業(yè)界主流大數(shù)據(jù)解決方案a. ELKb. Hadoop
3. 大數(shù)據(jù)產(chǎn)品分類介紹a. 開源技術(shù)b. 商業(yè)產(chǎn)品
大數(shù)據(jù)測(cè)試與傳統(tǒng)軟件測(cè)試
1. 數(shù)據(jù)
2. 基礎(chǔ)設(shè)施
3. 驗(yàn)證方法
測(cè)試準(zhǔn)備
1. 測(cè)試框架選擇
2. 測(cè)試環(huán)境基礎(chǔ)
3. 數(shù)據(jù)生成
4. 數(shù)據(jù)抽樣
功能性測(cè)試
1. 分布式單元測(cè)試
2. 數(shù)據(jù)處理過程驗(yàn)證
3. 數(shù)據(jù)質(zhì)量驗(yàn)證
4. 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)驗(yàn)證
5. “map reduce”驗(yàn)證
6. 輸出驗(yàn)證
7. 高可用性驗(yàn)證
8. 一致性驗(yàn)證
非功能測(cè)試
1. 遷移測(cè)試
a. 用戶場(chǎng)景研究
b. 目標(biāo)設(shè)定
c. 測(cè)試設(shè)計(jì)
i. 版本到版本遷移
ii. 數(shù)據(jù)遷移
iii. 拓?fù)溥w移
2. 可擴(kuò)展性測(cè)試
a. 擴(kuò)展需求分析
d. 目標(biāo)設(shè)定
c. 測(cè)試設(shè)計(jì)
3. 可靠性測(cè)試
a. 災(zāi)難定義
b. 災(zāi)難注入
c. 測(cè)試設(shè)計(jì)
基準(zhǔn)測(cè)試
1. 業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)介紹a. Specb. GLDSc. TPC
2. 微基準(zhǔn)
3. 組建基準(zhǔn)
4. 系統(tǒng)基準(zhǔn)
測(cè)試執(zhí)行
1. 測(cè)試管理
2. 自動(dòng)化測(cè)試
3. CI/CD4. 覆蓋率分析
5. 測(cè)試拓?fù)浣怦?br>
產(chǎn)品質(zhì)量評(píng)估
1. 延遲
2. 吞吐量
3. 容錯(cuò)率
4. 可擴(kuò)展性