實(shí)用可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)
一、可靠性設(shè)計(jì)的基本概念和運(yùn)用
降額、簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)、冗余、容差、熱設(shè)計(jì)、可靠性預(yù)計(jì)、可靠性增長(zhǎng)(RGT)
二、可靠性設(shè)計(jì)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和實(shí)施步驟。
三、元器件的故障模式、影響及采用的對(duì)策
電子產(chǎn)品常見的失效
無源器件常見失效原因、壽命計(jì)算
電子器件常見失效原因、壽命評(píng)價(jià)方法
機(jī)電元件常見失效原因和對(duì)策
集成電路的主要故障特點(diǎn)及對(duì)策。
可編程器件的程序設(shè)計(jì)對(duì)可靠性的影響
靜電和閂鎖對(duì)電子產(chǎn)品的破壞和預(yù)防設(shè)計(jì)
四、整機(jī)設(shè)計(jì)規(guī)則
熱設(shè)計(jì)、版圖設(shè)計(jì)、接地和抗干擾、三防和防塵設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)和防振設(shè)計(jì)、安全性設(shè)計(jì)
五、裝配、生產(chǎn)工藝對(duì)產(chǎn)品可靠性的影響
焊接、靜電防護(hù)、生產(chǎn)工序、PCB制備、離子污染、應(yīng)力釋放對(duì)產(chǎn)品可靠性的影響。
可靠性試驗(yàn)技術(shù)
六、設(shè)計(jì)人員需要了解的可靠性知識(shí)
可靠性基本知識(shí)、可靠性的發(fā)展方向、如何運(yùn)用可靠性的特征量、如何看MTBF
七、可靠性設(shè)計(jì)的評(píng)價(jià)(可靠性預(yù)計(jì)現(xiàn)狀、評(píng)價(jià),新的評(píng)價(jià)思路,可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn))
八、環(huán)境試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品缺陷暴露的作用
1.相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)
2.失效機(jī)理和環(huán)境的影響
3.如何設(shè)計(jì)試驗(yàn)條件
九、篩選、老化試驗(yàn)
1.篩選的作用和篩選度
2.篩選應(yīng)力的選擇
3.如何快速暴露產(chǎn)品缺陷(HALT)
4.高加速應(yīng)力篩選(HASS)介紹
5.環(huán)境試驗(yàn)的順序與分組
十、抽樣技術(shù)簡(jiǎn)介
1.抽樣和驗(yàn)收風(fēng)險(xiǎn)
2.如何建立抽樣方案
3.如何運(yùn)用抽樣的標(biāo)準(zhǔn) |